您好,歡迎來(lái)到秋山科技(東莞)有限公司!
Product center
日本snk細(xì)顆粒可視化技術(shù)
ViEST 通過(guò)追求寬大的靈敏度特性不斷更新最高靈敏度,以便在現(xiàn)場(chǎng)的各種限制下可視化細(xì)顆粒。那就是“細(xì)顆粒可視化技術(shù)"。
下圖根據(jù)米氏散射理論公式繪制了散射光強(qiáng)度與粒徑的關(guān)系圖。可以看到橫軸變化了2位數(shù),縱軸變化了6位數(shù)。我們利用并銷(xiāo)售一種超靈敏系統(tǒng),該系統(tǒng)已成功在暗室中可視化 80 nm 細(xì)顆粒以進(jìn)行實(shí)驗(yàn),這也在此圖表之外。
散射光強(qiáng)度與粒徑的關(guān)系
20多年來(lái),我們繼承了專(zhuān)業(yè)的技術(shù)人員,他們?cè)诳蛻?hù)的制造和開(kāi)發(fā)現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行了800多次拍攝和評(píng)估的記錄。如果你問(wèn)你想可視化什么樣的細(xì)顆粒,只有一個(gè)技術(shù)組有可靠的答案。