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日本Sinko denki針孔檢測的原理及設(shè)備介紹

發(fā)布時間:2022-06-20 點擊量:1336

日本Sinko denki針孔檢測的原理及設(shè)備介紹

針孔檢測原理

將兩個金屬體(電極)以恒定距離 (t) 放置在空氣中,并在兩個電極之間連接高壓發(fā)生器 (E)。接下來,隨著電源電壓的逐漸增加,您可以在電極之間看到一定值的聲光條紋。(見圖1)

原理圖

這是因為空氣被施加在電極之間的電壓破壞而失去電絕緣性,這種射線系統(tǒng)現(xiàn)象稱為火花放電。
空氣被電壓擊穿稱為介質(zhì)擊穿,此時的電壓稱為擊穿電壓絕緣耐壓
是空氣絕緣能承受一定電壓的破壞力。

原理圖

用于包裝的絕緣材料,如薄膜和塑料容器,通常具有比空氣更高的介電強度。因此,如果在引起放電的電極之間插入薄膜等,則電極會被高介電強度阻擋,放電會失去返回路徑而停止。(參見圖 2。)

原理圖

因此,如果在電極之間施加一個不破壞封裝材料而只破壞空氣絕緣的電壓,則用完好的封裝材料不會發(fā)生放電,只有針孔等有缺陷的部分才會放電。(參照圖3) 針孔檢查機檢測有無這種放電,判斷產(chǎn)品的質(zhì)量。


包裝針孔檢測原理

檢查示意圖

1 針孔檢查方法

左圖為封裝后的針孔檢測裝置的檢測輪廓。
如果在封裝通過檢查電極下方時檢測到針孔或密封不良,則檢查電極與內(nèi)容物之間以及接地電極與內(nèi)容物之間將發(fā)生放電。
該設(shè)備檢測是否存在這種放電,并確定包裝中針孔的質(zhì)量。

圖 4

2、針孔檢測原理

圖 4 用等效電路代替了針孔檢查的示意圖。

C1是檢查電極和內(nèi)容物之間形成的電容,C2是接地電極和內(nèi)容物之間形成的電容。R是內(nèi)容物的電阻。

圖 5

如果接地電極比檢查電極大,C2 的阻抗與 C1 相比可以忽略不計,則可以將其視為 C1 和 R 的串聯(lián)電路,如圖 5 所示。

此外,如果內(nèi)容物是導(dǎo)電的并且電阻可以忽略不計,電路配置將與上一節(jié)中的圖3相同,并且可以進行穩(wěn)定的針孔檢查。

如果在電極之間施加不破壞包裝材料而僅破壞空氣絕緣的電壓,則如果包裝材料有針孔或密封不良,則會發(fā)生放電。通過檢測有無這種放電,可以判斷產(chǎn)品針孔的好壞。

3 針孔檢查條件

能否通過高壓放電法對包裝品進行針孔檢查,取決于電極間施加的電壓(外加電壓)、包裝材料的絕緣強度、內(nèi)容物的電特性、形狀等. 因此,針孔檢查需要滿足以下條件。

1 包裝材料的特性
包裝材料必須具有較高的電絕緣性,并具有相對于檢驗電壓足夠大的介電強度。
■ 如果絕緣低,可能會導(dǎo)致誤檢測。
■ 如果邊緣強度低,則有損壞完好包裝材料的風(fēng)險。

2 內(nèi)容物條件
內(nèi)容物必須在包裝材料中填充良導(dǎo)體。
■ 即使內(nèi)容物是導(dǎo)電的,如果它們具有高電阻,則可能無法進行針孔檢查。
■ 根據(jù)產(chǎn)品的形狀、內(nèi)容物的形狀、特性、包裝條件等,可能無法進行針孔檢查。


針孔檢測機


APH-D

絕緣材料(塑料瓶蓋、塑料瓶、玻璃瓶、陶器)等在灌裝前采用高壓放電式針孔檢測對針孔缺陷進行非接觸檢測。

APH-DE25S

APH-DE25S

除拉蓋外,還可用于布丁等食品容器和眼藥水等化學(xué)容器的針孔檢查。

特斯拉燈檢查器

檢測燈泡和電子管的排氣水平或確定封閉氣體,檢測玻璃安瓿和真空裝置的玻璃部分的廢氣水平或確定封閉氣體。檢測橡膠、塑料和其他薄膜和薄板上的針孔。

APH-P

APH-P

它用作針孔檢查機,以電氣檢查意外出現(xiàn)在塑料涂層覆蓋面上的針孔,該塑料涂層安裝在彈性軟管的外表面上,用于防水。

APH-A

通過高壓放電式針孔檢測對填充化學(xué)品和食品(塑料瓶、瓶子、容器、袋子)后的缺陷和樹脂薄膜等針孔缺陷進行非接觸檢測。

微型檢查器(濕)

由于本機使用高電壓,因此可用于薄膜針孔檢查,如果氣隙約為幾十微米,則會導(dǎo)致絕緣失效。

電壓檢查器

本機是檢查 APH-D 型電極(+ 電極)電壓的設(shè)備。