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熱電特性評價裝置 ZEM-3系列的測量原理分析

發(fā)布時間:2022-10-08 點(diǎn)擊量:2309

熱電特性評價裝置 ZEM-3系列的測量原理分析

這是一種同時測量熱電材料的熱電率(塞貝克系數(shù))和電導(dǎo)率的裝置。我們準(zhǔn)備了溫度范圍為-80°C至1000°C的測量儀器,操作簡單。

用途

半導(dǎo)體,陶瓷,金屬等廣泛材料的熱電特性評價。

樣品以圓柱形或方柱的形式垂直放置在加熱爐中的上塊和下塊之間。通過下塊中的加熱器給樣品施加溫度梯度,同時將樣品加熱并保持在規(guī)定的溫度。塞貝克系數(shù)的測量是通過測量壓在樣品側(cè)面的熱電偶上的上部和下部T1,T2與熱電偶一側(cè)的同一股線之間的熱電動勢dE來確定的。
電阻測量采用直流四端法,通過在樣品兩端施加恒定電流I,測量熱電偶同一元件線之間的電壓降dV,并去除引線之間的熱電動勢來確定。

P型Si80Ge20燒結(jié)體的測量實(shí)例

特長

  • 采用溫度可控性優(yōu)異的紅外線金像加熱爐和溫差控制用微加熱器

  • 測量由計(jì)算機(jī)控制,可以在規(guī)定溫度下對各溫差進(jìn)行測量,也可以消除暗電動勢等自動測量

  • 標(biāo)配自動歐姆接觸檢查(V-I圖)

  • 可選附件可用于測量薄膜

  • 可定制為高電阻


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