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日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D 適用于 B，C，D，F(xiàn)，G，J，K類，切屑，熔體，徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機(jī)

日本ae-mic高精度數(shù)字電阻檢查器AE-162L D，F(xiàn)，G，J，K類，兼容超小型芯片（0201、03015），包帶機(jī)

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日本清新betterseishin激光微米粒度儀LMS-3000 新的激光粒度分析儀/激光微米分級儀LMS-3000可與干型和濕型兼容，其緊湊的尺寸可提供出色的性能。它易于使用，任何人都可以安全地測量從納米到毫米的各種粒徑。

日本sinko-denki手動針孔檢查機(jī)KS1-1 / 2 由于該機(jī)器使用高電壓，如果它是大約幾十微米的薄膜，會引起絕緣故障，從而可用于針孔檢查。