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產(chǎn)品型號:
所屬分類:光源
產(chǎn)品時間:2024-09-07
簡要描述:日本santec可變波長光學(xué)元件掃描測試系統(tǒng)通過結(jié)合可變波長光源(TSL系列),功率計(MPM),偏振控制單元(PCU-100)和定制軟件,在研發(fā)和生產(chǎn)線上對IL / WDL / PDL進行有效的測量和評估你能行的。
日本santec可變波長光學(xué)元件掃描測試系統(tǒng)
掃頻測試系統(tǒng)
通過結(jié)合可變波長光源(TSL系列),功率計(MPM),偏振控制單元(PCU-100)和定制軟件,在研發(fā)和生產(chǎn)線上對IL / WDL / PDL進行有效的測量和評估你能行的。
多站測量
通過將掃頻測試系統(tǒng)與多分支單元相結(jié)合,可以進一步提高檢查和評估的效率。
總覽
掃頻測試系統(tǒng)結(jié)合了可變波長光源(TSL系列),多端口功率計(MPM系列),偏振控制單元(PCU-100)和軟件,是光學(xué)設(shè)備和生產(chǎn)現(xiàn)場研發(fā)的理想選擇。這是一個評估工具。通過實時參考可變波長光源的輸出功率同時獲取通過DUT傳輸?shù)墓夤β?,可以高精度地測量IL / WDL / PDL。該系統(tǒng)使用穆勒矩陣方法來計算PDL。
特性
WDL(與波長有關(guān)的損耗)測量
80 dB或更高的高動態(tài)范圍測量
我們的可變波長光源TSL系列配備了具有創(chuàng)新設(shè)計的諧振器,可減少ASE光學(xué)噪聲,同時實現(xiàn)很高的信噪比和很高的光學(xué)輸出功率。因此,該系統(tǒng)可以同時評估具有高動態(tài)范圍特性的光學(xué)組件的多個端口的特性。
下圖分別顯示了CWDM濾波器和陷波濾波器(例如FBG)的測量數(shù)據(jù)。
波長精度高+/- 3 pm
由于TSL系列標配了波長監(jiān)視器,因此可以高精度地測量光學(xué)組件。
下圖顯示了乙炔(12C2H2)氣體吸收線的測量波長,可以看出以*的測量精度可以進行測量。
波長分辨率低于0.1 pm
該系統(tǒng)不僅可以用于WDM的光學(xué)組件,而且可以用于窄線寬濾光片,以高波長分辨率測量WDL和PDL。
該圖是超高Q容量設(shè)備的測量結(jié)果,您可以看到它可以以0.1 pm或更小的分辨率進行測量。
運用
配置示例
1. PDL(極化相關(guān)損耗)測量
2. WDL(波長相關(guān)損耗)測量 ??
3. WDL(波長相關(guān)損耗)測量(其他公司的功率計)
日本santec可變波長光學(xué)元件掃描測試系統(tǒng)
多站點檢測
在多站測量系統(tǒng)中,可變波長光源,偏振控制器和多分支單元用作服務(wù)器,并且光和觸發(fā)信號從它們分支并發(fā)送到每個站。每個站僅包含一個功率計和一臺PC。
在測量期間,服務(wù)器的可變波長光源連續(xù)掃描預(yù)定范圍。因此,每個站可以隨時獨立于其他站進行測量。
這樣,該系統(tǒng)可以在保持高精度特性的同時進一步提高檢查和評估的效率。