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  • 日本issoku相對測量比較長度測量機2M-677
    日本issoku相對測量比較長度測量機2M-677

    日本issoku相對測量比較長度測量機2M-677 ●簡單耐用的長距離長度測量儀。 ●可用于從工作場所到測量室的許多高精度測量應(yīng)用。 ●當(dāng)一起測量相同尺寸的零件時,本機將展示其力量。

    時間:2024-09-09型號:
  • 日本issoku螺紋孔自動檢查機Bee-1
    日本issoku螺紋孔自動檢查機Bee-1

    日本issoku螺紋孔自動檢查機Bee-1 ●自動檢查M1.4至M10(等效)的出鐵孔。一次測量多可檢查50個螺孔。 ●在大約2秒鐘內(nèi)檢查一個孔(M1.4深度3毫米)。 ●測量坐標(biāo)可以以一種模式多存儲50個坐標(biāo),并且多可以注冊10個模式。

    時間:2024-09-09型號:
  • IDM-30EX/100EX日本issoku光學(xué)非接觸式小直徑內(nèi)徑測量儀
    IDM-30EX/100EX日本issoku光學(xué)非接觸式小直徑內(nèi)徑測量儀

    日本issoku光學(xué)非接觸式小直徑內(nèi)徑測量儀IDM-30EX/100EX 任何人都可以立即以高精度和高速度進(jìn)行測量 [易于與EX系統(tǒng)對齊。校準(zhǔn)環(huán)規(guī)和剪刀規(guī)的理想選擇。]

    時間:2024-09-09型號:IDM-30EX/100EX
  • 日本hu-brain芯片零件六面圖像檢查設(shè)備
    日本hu-brain芯片零件六面圖像檢查設(shè)備

    日本hu-brain芯片零件六面圖像檢查設(shè)備 觸摸屏使操作員易于操作。 也可以通過更換零件來使用。 您可以將檢查范圍設(shè)置為多邊形窗口中的每個角。

    時間:2024-09-09型號:
  • 日本hu-brain圓晶/芯片外觀品質(zhì)檢測設(shè)備
    日本hu-brain圓晶/芯片外觀品質(zhì)檢測設(shè)備

    日本hu-brain圓晶/芯片外觀品質(zhì)檢測設(shè)備 可以高速且高精度地檢查在晶片工藝和切割工藝中出現(xiàn)的外觀缺陷。 可以檢查各種圖案的芯片。 對于每種產(chǎn)品類型,可以使用可變的圖像分辨率(1.5至5 µ)進(jìn)行檢查。

    時間:2024-09-09型號:
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