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日本napson非接觸式硅錠壽命測量儀

日本napson非接觸式硅錠壽命測量儀

產(chǎn)品型號： HF-90R

所屬分類：

產(chǎn)品時間：2024-09-07

簡要描述：日本napson非接觸式硅錠壽命測量儀HF-90R
樣品以JIS Tanzaku形狀進行測量（單晶硅）
通過光電導(dǎo)衰減法進行非接觸式測量
通過示波器和PC進行數(shù)據(jù)處理（軟件）

詳細說明：

日本napson非接觸式硅錠壽命測量儀HF-90R

 

產(chǎn)品特點

  • 樣品以JIS Tanzaku形狀進行測量（單晶硅）
  • 通過光電導(dǎo)衰減法進行非接觸式測量
  • 通過示波器和PC進行數(shù)據(jù)處理（軟件）

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

硅錠，硅塊，JIS tanzaku形狀

測量尺寸

JIS Tanzaku形狀（請聯(lián)系我們）

測量范圍

約100至5,000μS
（電阻率在10 至5kΩ ·cm的范圍內(nèi)）

日本napson非接觸式硅錠壽命測量儀HF-90R

產(chǎn)品特點

  • 樣品以JIS Tanzaku形狀進行測量（單晶硅）
  • 通過光電導(dǎo)衰減法進行非接觸式測量
  • 通過示波器和PC進行數(shù)據(jù)處理（軟件）

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

硅錠，硅塊，JIS tanzaku形狀

測量尺寸

JIS Tanzaku形狀（請聯(lián)系我們）

測量范圍

約100至5,000μS
（電阻率在10 至5kΩ ·cm的范圍內(nèi)）



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