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日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀

日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀

產(chǎn)品型號： HF-100DCA

所屬分類：

產(chǎn)品時間：2024-09-07

簡要描述：日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀HF-100DCA
以硅塊，JIS tanzaku形狀和晶錠狀態(tài)（單晶/多晶硅）測量樣品
直流方式接觸測量
通過示波器和PC進行數(shù)據(jù)處理（軟件）

詳細說明：

日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀HF-100DCA

 

產(chǎn)品特點

  • 以硅塊，JIS tanzaku形狀和晶錠狀態(tài)（單晶/多晶硅）測量樣品
  • 直流方式接觸測量
  • 通過示波器和PC進行數(shù)據(jù)處理（軟件）

測量規(guī)格

測量目標

硅錠，硅塊，JIS tanzaku形狀

測量尺寸

硅錠，JIS tanzaku形狀（請聯(lián)系我們）

測量范圍

約50μS至20 mS

日本napson非接觸式JIS法硅錠壽命測定儀HF-100DCA

產(chǎn)品特點

  • 以硅塊，JIS tanzaku形狀和晶錠狀態(tài)（單晶/多晶硅）測量樣品
  • 直流方式接觸測量
  • 通過示波器和PC進行數(shù)據(jù)處理（軟件）

測量規(guī)格

測量目標

硅錠，硅塊，JIS tanzaku形狀

測量尺寸

硅錠，JIS tanzaku形狀（請聯(lián)系我們）

測量范圍

約50μS至20 mS



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